在找光电耦合器检测机构?百检网为您提供光电耦合器检测服务,专业工程师对接确认项目、标准后制定方案,包括光电耦合器检测周期、报价、样品等,确认无误后安排寄样检测,光电耦合器检测常规周期3-15个工作日,欢迎咨询。
检测样品:纺织品、化妆品、食品、农产品、绝缘工具、五金件等
报告资质:CNAS/CMA/CAL
报告周期:常规3-15个工作日,特殊样品、检测项目除外。
检测费用:根据检测项目收费,详情请咨询百检网。
光电耦合器检测项目:
电流传输比hF(ctr),集电极-发射极饱和电压VCE(sat),反向击穿电压,反向电流,正向电压,电流传输比,输出截止电流,集电极-发射极击穿电压,正向压降,电流传输比(hF(ctr)),集电极-发射极饱和电压VCEsat,集电极-发射极饱和电压,暗电流(ICEO),正向压降(VF),电流传输比(hF(ctr)),集电极发射极饱和电压(VCEsat),反向电流(二极管),正向电压(输入二极管),反向击穿电压(二极管),反向电流(二极管),正向电压(输入二极管),集电极-发射极饱和电压降,反向直流电流,发射极-基极击穿电压,发射极-基极电流,基极-发射极饱和电压,正向直流电压,集电极-发射极电压,集电极-发射极电流,集电极-基极击穿电压,集电极-基极电流,集电极-发射极截止电流,集电极-发射极饱和电压Vce(sat),上升传输延迟时间,下降传输延迟时间,二极管正向电流,传递系数,低电平电源电流,正向电压(二极管),维持电流,脉冲上升时间,脉冲下降时间,输出低电平电压,输出高电平电压,通态直流电压,隔离电压,零位电压,非线性度,高电平电源电流,正向电流,正向电流(二极管),结电容,反向电流IR,正向电压VF,电流传输比CTR,输出截止电流ICEO,集电极-发射极击穿电压V(BR)CEO,电流传输比hF(ctr),集电极-发射极击穿 电压V(BR)CEO,集电极-发射极截止电流ICEO,集电极-发射极饱和电压VCE(sat),上升时间/开通时间/下降时间/关断时间,上升时间/开通时间,下降时间/关断时间,基极开路时的最大集电极-发射极电压,最大反向输入直流电压,温度循环,温度贮存,输入二级管反向电流,输入二级管正向电压,集电极-发射极暗电流或集电极-基极暗电流(适用时),集电极-发射极饱和电压或集电极-基极电压(适用时),反向击穿电压VBR,反向漏电流IR,正向电流IF,电流传输比CTR(Ic),集电极-发射极截止电流ICEO,交变湿热试验方法,光电耦合器的局部放电,光电耦合器的开关时间ton、toff,光电耦合器的集电极-发射极的饱和电压VCE(sat),冲击,可燃性试验,外部爬电距离,外部电气间隙,存储温度,密封,峰值关断电流IDRM,振动,最终测试,最终试验,标记,标签,以及规格书的信息,检验,温度变化,湿热,相比电痕化指数,绝缘材料的限制温度,绝缘材料试验,试验和检验,输入-输出电容,输入-输出隔离电阻,陶瓷材料,隔离测试,隔离试验,集电极-发射极饱和电压(直流法),集电极-发射极饱和电压(脉冲法),预处理,高温,反向电流IR
百检检测流程:
1、电话沟通、确认需求;
2、推荐方案、确认报价;
3、邮寄样品、安排检测;
4、进度跟踪、结果反馈;
5、出具报告、售后服务;
6、如需加急、优先处理;
光电耦合器检测标准:
1、GB/T 15651.3-2003 半导体器件分立器件和集成电路 第5-3部分: 光电子器件测试方法 5.1
2、GJB 4508-2002 光电器件环境应力筛选通用要求 5.2.4
3、GB/T15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件 第Ⅳ章 第3节
4、 SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
5、GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件 Ⅳ3.1
6、IEC 60747-5-5:2007+A1:2013 半导体器件–分立器件–第5-5部分:光电子器件–光电耦合器 7.4.3.2.1
7、SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
8、SJ/2215-2015 《半导体光电耦合器测试方法》 5.7
9、GB/T 15651.2-2003 半导体器件分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性 7.6.10
10、GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分 信号(包括开关)和调整二极管 第Ⅳ章第1节1条 第Ⅳ章第1节2条
11、GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法
12、GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 第Ⅳ章3条
13、SJ/T2215-2015 半导体光电耦合器测试方法 5.3
14、GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性
15、GB/T 15651.3-2003 半导体器件分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法 5.7
16、GB/T4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管
一份检测报告有什么用?
产品检测报告主要反映了产品各项指标是否达到标准中的合格要求,能够为企业产品研发、投标、电商平台上架、商超入驻、学校科研提供客观的参考。
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