在找半导体二极管检测机构?百检网为您提供半导体二极管检测服务,专业工程师对接确认项目、标准后制定方案,包括半导体二极管检测周期、报价、样品等,确认无误后安排寄样检测,半导体二极管检测常规周期3-15个工作日,欢迎咨询。
检测样品:纺织品、化妆品、食品、农产品、绝缘工具、五金件等
报告资质:CNAS/CMA/CAL
报告周期:常规3-15个工作日,特殊样品、检测项目除外。
检测费用:根据检测项目收费,详情请咨询百检网。
半导体二极管检测项目:
反向漏电流,外部目检,正向电压,二极管特性曲线,正向压降,密封,恒定加速度,温度循环,粒子碰撞噪声检测试验,老炼试验,高温寿命(非工作),老炼(二极管、整流管、稳压管),低温测试,反向恢复时间,微分电阻Rz,浪涌电流,电耐久性试验,瞬态热阻,稳态热阻Rja,Rjc,箝位电压,高温反偏试验,高温测试,高温寿命
百检检测流程:
1、电话沟通、确认需求;
2、推荐方案、确认报价;
3、邮寄样品、安排检测;
4、进度跟踪、结果反馈;
5、出具报告、售后服务;
6、如需加急、优先处理;
半导体二极管检测标准:
1、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995
2、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
3、GB/T 4023-2015 《半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管》 7.1.4
4、JESD51-14-2010 半导体器件结到外壳热阻瞬态双界面测试方法
5、GJB128A-1997/ 半导体分立器件试验方法 4023
6、GB/T 4023-2015 《半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管》 GB/T 4023-2015
7、GJB 128A-1997 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997
8、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
9、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第Ⅳ章第1节4.2.3,4.2.4
10、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 112
11、MIL-STD- 750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 MIL-STD-750F
12、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 1014.2
13、GB/T 2423.23-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q:密封
14、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009
15、GJB128A-1997 《半导体分立器件试验方法》 方法4016
16、GB/T4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 7.1.2,7.1.4
17、MIL-STD-750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 3101.4
一份检测报告有什么用?
产品检测报告主要反映了产品各项指标是否达到标准中的合格要求,能够为企业产品研发、投标、电商平台上架、商超入驻、学校科研提供客观的参考。
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