在找半导体集成电路(失效分析)检测机构?百检网为您提供半导体集成电路(失效分析)检测服务,专业工程师对接确认项目、标准后制定方案,包括半导体集成电路(失效分析)检测周期、报价、样品等,确认无误后安排寄样检测,半导体集成电路(失效分析)检测常规周期3-15个工作日,欢迎咨询。
检测样品:纺织品、化妆品、食品、农产品、绝缘工具、五金件等
报告资质:CNAS/CMA/CAL
报告周期:常规3-15个工作日,特殊样品、检测项目除外。
检测费用:根据检测项目收费,详情请咨询百检网。
半导体集成电路(失效分析)检测项目:
X射线照相,内部检查和清洗,壳内气氛分析,外壳清洗,外部检查,多头探针测试,密封性试验,电参数测试,真空烘焙,管壳开封,试验分析,键合强度测试,非功能测试,颗粒碰撞噪声检测,X射线检查,内部目检,外部目检,密封,扫描电子显微镜检查,探针电测试,粒子碰撞噪声检测
百检检测流程:
1、电话沟通、确认需求;
2、推荐方案、确认报价;
3、邮寄样品、安排检测;
4、进度跟踪、结果反馈;
5、出具报告、售后服务;
6、如需加急、优先处理;
半导体集成电路(失效分析)检测标准:
1、GJB 3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998
2、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
3、GJB 3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法 5.2.4
4、GJB3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法 5.2.4
5、GJB548A-1996 外部检查
6、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2014
7、GJB548B-2005 颗粒碰撞噪声检测
8、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996
9、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 方法2012A
一份检测报告有什么用?
产品检测报告主要反映了产品各项指标是否达到标准中的合格要求,能够为企业产品研发、投标、电商平台上架、商超入驻、学校科研提供客观的参考。
百检第三方机构检测服务包括食品、环境、医疗、建材、电子、化工、汽车、家居、母婴、玩具、箱包、水质、化妆品、纺织品、日化品、农产品等多项领域检测服务,欢迎咨询。