在找场效应晶体管检测机构？百检网为您提供场效应晶体管检测服务，专业工程师对接确认项目、标准后制定方案，包括场效应晶体管检测周期、报价、样品等，确认无误后安排寄样检测，场效应晶体管检测常规周期3-15个工作日，欢迎咨询。

检测样品：纺织品、化妆品、食品、农产品、绝缘工具、五金件等

报告资质：CNAS/CMA/CAL

报告周期：常规3-15个工作日，特殊样品、检测项目除外。

检测费用：根据检测项目收费，详情请咨询百检网。

场效应晶体管检测项目：

栅-源阈值电压VGS(TO),栅极截止电流和栅极泄露电流,漏极截止电流,栅-源阈值电压,栅极截止电流,漏极电流,高温反偏,栅极漏泄电流,正向跨导,漏一源击穿电压,静态漏-源通态电阻,反向传输电容Crss,开关时间,栅-源阈值电压VGS(th),栅极截止电流IGSS,源-漏二极管正向压降VSD,漏-源击穿电压V(BR)DSS,漏极截止电流IDSS,短路正向跨导gfs,管壳热阻（瞬态Z（th）J-C和稳态R（th）J-C）,输入电容Ciss,输出电容Coss,静态漏-源通态电阻RDS(on),漏-源（直流）电压,栅-源（直流）电压,栅-漏（直流）电压,漏极（直流）电流,漏极峰值电流,漏极反向（直流）电流,漏极反向峰值电流,反偏安全工作区,短路安全工作区,重复雪崩能量,非重复雪崩能量,击穿电压,漏极漏电流,栅极漏电流,漏-源通态电阻,漏-源通态压降,开通能量,关断能量,栅极电荷,输入电容,输出电容,反向传输电容,栅极内阻,反向恢复时间,反向恢复电荷,漏-源反向电压,结-壳瞬态热阻抗和热阻,高温阻断（HTRB）,高温栅极偏置,间歇工作寿命（负载循环）,栅-源截止电压,栅极截止电流或栅极漏泄电流,漏-源通态电压,栅-源短路时，漏极电流,漏-源击穿电压,漏-源短路时，栅极电流,栅-源阈值电压VGS(th),栅极截止电流和栅极泄漏电流IGSS,漏极截止电流IDSS,栅-源截止电压VGSoff,栅-源阈值电压VGS（th）,栅源极截止（漏泄）电流IGSS,正向跨导gfs,漏源击穿电压V（BR）DSS,漏源极截止电流IDSS,静态漏-源通态电阻rDS,噪声电压噪声系数,时间参数,热阻参数,电压参数,电容参数,电导参数,电流参数,电阻参数,栅源漏电流,栅源阈值电压,漏源击穿电压,漏源通态电阻,跨导,零栅压漏极电流,静态漏源通态电压,静态漏源通态电阻,小信号短路正向跨导,栅极截止电流或栅极漏泄电流IGSS,栅极阈值电压VGS(th),漏-源击穿电压V(BR)DSS,漏极截止电流IDSS,漏极电流ID,通态漏-源电阻rds（on）,栅-源阈值电压VGS（th）,栅源击穿电压V（BR）GSS,漏源击穿电压V（BR）DSS,栅极泄漏电流,静态漏—源通态电阻,栅-源截止电压(VGSoff）,栅-源阈值电压(VGSth),漏-源通态电压(VDSon),静态漏-源通态电阻(rDSon),反向栅源漏电流,正向栅源漏电流,漏源通态电压,栅源短路时栅极漏电流,漏-源短路漏极电流,栅-源阈值电压VGS（TO）,栅极截止电流或栅极泄露电流,栅极阈值电压VGS（th）,栅源短路时栅极漏电流IGSS,正向跨导ggs（Vgs）,漏-源击穿电压BVDSS,漏-源短路漏极电流IDSS,漏极电流ID,漏极电流Id（on）,通态漏-源电阻rDS（on）,静态漏-源通态电阻RDS（on）,外部目验,密封,尺寸,快速温度变化,恒定加速度,栅源截止电压,栅源阈电压,湿热循环,漏泄或截止电流,漏源电压,稳态湿热,高温贮存,(结栅型, 绝缘栅耗尽型):G-S关断电压VGS(off)； (绝缘栅增强型):G-S阈值电压VGS(th),(结栅型, 绝缘栅耗尽型,绝缘栅增强型):崩溃电压V(BR)DSS,(绝缘栅增强型IDSS)或(结栅型,绝缘栅耗尽型):漏极关断电流IDSX,静态D-S导通阻抗RDS(on)或者D-S导通电压VDS(on),IDSX:漏极关断电流/IDS*:漏极漏电流

百检检测流程：

1、电话沟通、确认需求;

2、推荐方案、确认报价;

3、邮寄样品、安排检测;

4、进度跟踪、结果反馈;

5、出具报告、售后服务;

6、如需加急、优先处理;

场效应晶体管检测标准：

1、GB/T 6219-1998 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第一篇 1GHz、5W以下的单栅场效应晶体管 空白详细规范 8 表1 A1

2、GB/T4586-1994 半导体器件第8部分 场效应晶体管 Ⅳ.6

3、GB/T4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章2

4、GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章6

5、GB/T 4586-94(IEC 60747-8:1984) 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅲ章3.1.11

6、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3407

7、GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章第1节2

8、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分 分立器件和集成电路总规范 4

9、IEC 60747-8 Ed. 3.0 b:2010 半导体器件-分立器件-第8部分: 场效应晶体管 6.3.5

10、GB/T 4586-1994/IEC 747-8-1984 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第IV章 2

11、IEC 60747-8-2010 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 6.3.3

12、IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管 6.3.2

13、GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 1039/2.1.1

14、IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 半导体器件-分立器件-第8部分: 场效应晶体管 6.2.1.1

一份检测报告有什么用?

产品检测报告主要反映了产品各项指标是否达到标准中的合格要求，能够为企业产品研发、投标、电商平台上架、商超入驻、学校科研提供客观的参考。

百检第三方机构检测服务包括食品、环境、医疗、建材、电子、化工、汽车、家居、母婴、玩具、箱包、水质、化妆品、纺织品、日化品、农产品等多项领域检测服务，欢迎咨询。